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Die chemische Kraftmikroskopie

December 17, 2003 by  

Neuartige Möglichkeiten der Oberfächenmodifizierung & Charakterisierung durch SPM

Mit aufwendig entwickelten Methoden aus der Rastersondenmikroskopie wie z.B. DPFM [1] und CFM [2] sind wir als einziges Unternehmen in der Lage, Oberflächen sowohl konventionell (topographisch, elastisch), als auch chemisch sensitiv bis zur molekularen Auflösung abzubilden.

[1] DPFM http://www.nanocraft.de/kompetenz/kompetenz.html
[2] CFM http://www.nanocraft.de/a_topographie/a_chemie/a_chemie.html

Im Gegensatz zu unmodifizierten Spitzen mit undefinierbaren chemischen Endgruppen, und somit uninterpretierbaren Wechselwirkungen zur Oberfläche, erzielen wir mit chemisch modifizierten Spitzen unter Einsatz des Rasterkraftmikroskops eine klar definierte Wechselwirkung. Dies ermöglicht erstmals die Abbildung chemischer Kontraste mit fundierter Interpretation auf der Basis etablierter Modelle. Durch die Vielzahl der Modifikationsvarianten können chemische und selbst biologische Oberflächen systematisch auf chemische Endgruppen untersucht werden.


NanoCraft
Michael Korte Dipl.-Phys.
Innovationszentrum-Engen
Turmstrasse 4
78234 Engen
Tel. 07733 948445
korte@nanocraft.de
www.nanocraft.de

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